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dc.contributor.authorSchäfer, Sören
dc.contributor.authorLiu, Xiaolong
dc.contributor.authorMc Kearney, Patrick
dc.contributor.authorPaulus, Simon
dc.contributor.authorRadfar, Behrad
dc.contributor.authorVähänissi, Ville
dc.contributor.authorSavin, Hele
dc.contributor.authorKontermann, Stefan
dc.contributor.otherInstitut für Mikrosystemtechnik (IMtech)
dc.date.accessioned2025-08-04T11:02:03Z
dc.date.available2025-08-04T11:02:03Z
dc.date.issued2024-05-02
dc.identifier.issn1862-6300
dc.identifier.urihttps://hlbrm.pur.hebis.de/xmlui/handle/123456789/322
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.25716/pur-212
dc.description.sponsorshipGefördert im Rahmen des Projekt DEAL
dc.format.extent8 S.
dc.language.isoen
dc.publisherWiley-VCH; Weinheim
dc.relation.ispartofphysica status solidi (a)
dc.rightsopen access
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjecteffective carrier lifetime
dc.subjecthyperdoping
dc.subjectsilicon
dc.subjectsimulation
dc.subjectwet‐chemical etching
dc.subject.ddc500 Naturwissenschaften
dc.subject.ddc500 Naturwissenschaften::530 Physik
dc.titleEffective Carrier Lifetime in Ultrashort Pulse Laser Hyperdoped Silicon: Sulfur Concentration Dependence and Practical Limitations
dc.typeAufsatz
dcterms.accessRightsopen access
pur.source.volume221
pur.source.issue24
dc.description.versionPublished Version
dc.identifier.eissn1862-6319
pur.source.articlenumber2400132
dc.identifier.doi10.1002/pssa.202400132
dc.identifier.urlhttps://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/pssa.202400132
pur.fundingProject/ Bundesministerium für Bildung und Forschung / 03INT701AA
pur.fundingProject/ Bundesministerium für Bildung und Forschung / 03FHP147A
pur.fundingProject/ Business Finland / 7479/31/2019
pur.fundingProject/ Academy of Finland / 354199
pur.fundingProject/ Academy of Finland / 331313
pur.peerReviewtrue
pur.typeDCMIText


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